Atipicidad: Medida de calidad clave dentro del descubrimiento de reglas descriptivas supervisadas

TitleAtipicidad: Medida de calidad clave dentro del descubrimiento de reglas descriptivas supervisadas
Publication TypeConference Paper
Year of Publication2018
AuthorsCarmona, C. J., del Jesus M.J., and Herrera F.
Conference NameProc. of the XVIII Conferencia de la Asociación Española para la Inteligencia Artificial (XVIII CAEPIA)
Pagination827-828
Notes

TIN2014-916 57251-P, TIN2015-68454-R